Grande parte do sucesso da medicina moderna se deve ao desenvolvimento das técnicas de diagnóstico por imagem, tais como a tomografia computadorizada, a ultrassonografia e a ressonância magnética nuclear. Dentre essas técnicas, a tomografia de impedância elétrica (TIE) tem chamando a atenção de pesquisadores das mais diferentes áreas. Considerada uma técnica não invasiva e de baixo custo, a TIE vem ganhando maturidade nas últimas décadas e muito esforço tem sido despendido, tanto no aperfeiçoamento da parte instrumental como no desenvolvimento de algoritmos numéricos. Este livro é uma introdução a alguns métodos computacionais aplicados à TIE. Com uma linguagem didática e simples, o texto discorre sobre a formulação matemática do problema da reconstrução da imagem na TIE e faz uma revisão sobre problemas inversos, técnicas de regularização e métodos de otimização. Mais es pecifi cadamente, o texto apresenta o Método dos Elementos de Contorno como técnica para resolver numericamente o problema direto (composto pela equação de Laplace e condições de contorno) e o algoritmo de otimização estocástico Simulated Annealing para tratar do problema inverso.
| Código: |
172658 |
| EAN: |
9788578614294 |
| Peso (kg): |
0,280 |
| Altura (cm): |
23,00 |
| Largura (cm): |
16,00 |
| Espessura (cm): |
1,00 |
| Especificação |
| Autor |
Vanessa Alexandre Souto; Rolnik Olavo Henrique; Martinez Menin |
| Editora |
LIVRARIA DA FÍSICA |
| Número Edição |
1 |